揭示了對(duì)含有鋰的經(jīng)過離子交換的化學(xué)強(qiáng)化玻璃進(jìn)行表征的方法。該方法能夠?qū)瘜W(xué)強(qiáng)化含Li玻璃中的應(yīng)力分布進(jìn)行質(zhì)量控制，所述化學(xué)強(qiáng)化含Li玻璃具有在含鉀鹽(特別是同時(shí)具有鉀和鈉的鹽)中產(chǎn)生的表面應(yīng)力尖峰。該方法實(shí)現(xiàn)了對(duì)表面壓縮和尖峰高層度、及其對(duì)中心張力的貢獻(xiàn)、和尖峰底部的壓縮以及總中心張力進(jìn)行測(cè)量，以及計(jì)算在應(yīng)力分布的尖峰與深區(qū)域相交的膝處的應(yīng)力。測(cè)量是用于商業(yè)上重要的基材內(nèi)部除了尖峰之外的大部分地方是近拋物線形狀的分布。

　　本公開的一個(gè)方面涉及對(duì)具有表面應(yīng)力尖峰的化學(xué)強(qiáng)化含Li玻璃進(jìn)行表征的方法，例如，該玻璃是通過例如離子交換過程產(chǎn)生的(即，堿性離子的內(nèi)擴(kuò)散)，從而Li+與K+和Na+離子發(fā)生交換(即，Na+)。該方法產(chǎn)生對(duì)表面壓縮和尖峰高層度的測(cè)量，及其對(duì)于中心張力的貢獻(xiàn)，以及在尖峰底部的壓縮和總中心張力。

　　優(yōu)選地，進(jìn)行該方法以獲得商業(yè)上重要的應(yīng)力分布，例如，在除了與基材表面相鄰的尖峰之外的基材的大部分內(nèi)部是近拋物線形狀的那種。尖峰通常是通過K+離子的較緩慢擴(kuò)散(且由此較淺擴(kuò)散)形成的，而基本上拋物線部分是通過Na+離子的較快速擴(kuò)散(且由此較深擴(kuò)散)形成的。該方法能夠驗(yàn)證分布已經(jīng)達(dá)到近拋物線模式，例如，具有自我一致性檢查(self-consistency check)。該方法還包括對(duì)進(jìn)行加工的玻璃樣品進(jìn)行質(zhì)量控制。此類質(zhì)量控制對(duì)于商業(yè)上可行的制造工藝是重要的。

　　本公開提供了對(duì)化學(xué)強(qiáng)化含Li玻璃中的應(yīng)力分布進(jìn)行質(zhì)量控制的方法，所述化學(xué)強(qiáng)化含Li玻璃具有在含鉀鹽(特別是同時(shí)具有鉀和鈉的鹽)中產(chǎn)生的表面應(yīng)力尖峰。對(duì)于商業(yè)上重要的在(除了尖峰之外的)基材的大部分內(nèi)部是近拋物線形狀的分布，該方法實(shí)現(xiàn)了對(duì)表面壓縮和尖峰高層度進(jìn)行測(cè)量，及其對(duì)于中心張力的貢獻(xiàn)，以及在尖峰底部的壓縮和總中心張力。該方法能夠檢查分布已經(jīng)達(dá)到近拋物線模式，例如，具有自我一致性檢查(self-consistency check)。該方法提供了對(duì)于質(zhì)量控制特別重要的工具，這對(duì)于采用實(shí)現(xiàn)制造這些重要分布的含鋰玻璃是必須的。

　　對(duì)尖峰底部的應(yīng)力水平(即，膝應(yīng)力)進(jìn)行測(cè)量的現(xiàn)有技術(shù)方法具有以下限制：橫向電場(chǎng)(TE)角度耦合譜的臨界角轉(zhuǎn)變的位置的測(cè)量度較差。這種差的度是TE轉(zhuǎn)變的固有方面，這是廣泛的，并且因此在棱鏡耦合光譜中顯得模糊。這種銳度缺乏導(dǎo)致測(cè)得的模線(mode line)位置易受照明角度分布的不均勻性(例如，背景不均勻性)和簡(jiǎn)單的圖像噪聲的干擾。

　　本文所揭示的數(shù)種方法避免了對(duì)于確測(cè)量TE轉(zhuǎn)變的臨界角位置的確測(cè)量的需求。在方法的一個(gè)方面，測(cè)量了表面應(yīng)力和尖峰中的應(yīng)力斜率以及尖峰的高層度(層高層度或DOL)，其中，通過僅使用TM波的臨界角轉(zhuǎn)變，非常確地測(cè)量了DOL。這種TM轉(zhuǎn)變比TE轉(zhuǎn)變更為銳利，因而實(shí)現(xiàn)了確得多的測(cè)量。因此，在方法的一個(gè)例子中，沒有使用TE模譜(特別是TE譜的TE轉(zhuǎn)變)來確定尖峰的DOL。

　　知道了表面應(yīng)力和尖峰的斜率以及尖峰的高層度(上文所述的DOL)，則確定了尖峰底部的應(yīng)力，其中，尖峰的底部存在于高層度＝DOL處。這是“膝應(yīng)力”并且在本文中表示為CS膝或者CSk，或者更一般形式σ膝。然后根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)方法進(jìn)行應(yīng)力分布屬性的余下計(jì)算。

　　本文所揭示的第二種的方法避免了對(duì)膝應(yīng)力進(jìn)行直接測(cè)量并且通過使用TM和TE偏振都共用的后導(dǎo)模的雙折射來計(jì)算膝應(yīng)力，以及確地確定了所述后共用導(dǎo)模的雙折射與膝處應(yīng)力之間的關(guān)系。與臨界角(特別是在含Li玻璃的尖峰深分布情況下TE波的臨界角)測(cè)量的度相比，利用了模位置(mode position)的測(cè)量度通常更好的優(yōu)點(diǎn)。

　　本文所揭示的方法的優(yōu)點(diǎn)在于，它們不是破壞性的，并且可以以高產(chǎn)率和高度進(jìn)行，來確定與制造化學(xué)強(qiáng)化玻璃中的擴(kuò)散工藝相關(guān)的關(guān)鍵參數(shù)。這些關(guān)鍵參數(shù)包括：CS、尖峰高層度、壓縮高層度的估算和易碎性狀態(tài)(基于通過該方法提供的CT的估算)。另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)在于，該方法可以在用于目前生產(chǎn)的化學(xué)強(qiáng)化玻璃的質(zhì)量控制的現(xiàn)有硬件上，通過相對(duì)適度的軟件增強(qiáng)來執(zhí)行。